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芯片制造:湿氧化工艺
2025年06月24日 08:56   浏览:186   来源:小萍子
本文介绍了芯片制造中的湿氧化工艺的概念和工艺流程。


湿法氧化工艺全解析在芯片的硅基世界中,二氧化硅(SiO₂) 是用途最广的绝缘材料。而湿法氧化(Wet Oxidation) 正是制备这种材料的核心技术之一:


让高温水蒸气与硅发生化学反应,在硅表面“生长”出致密的SiO₂


图片


一、湿法氧化 vs 干法氧化:为什么需要水蒸气?


芯片制造中两种氧化工艺并存,但湿法氧化凭借三大优势成为厚氧化层的首选:


特性
干法氧化(Dry O₂)
湿法氧化(Wet Oxidation)
反应式
Si + O₂ → SiO₂
Si + 2H₂O → SiO₂ + 2H₂↑
氧化速率
慢(900℃时 0.01 μm/h)
快3-5倍(0.03-0.05 μm/h)
氧化层密度
高(2.27 g/cm³)
略低(2.18 g/cm³)
适用场景
薄层(<50 nm)
厚层(>100 nm)


水蒸气的关键作用:氢原子裂解硅键:H₂O分子在高温下分解为·OH自由基,比O₂更易打破Si-Si键;体积膨胀效应:1体积硅生成2.2体积SiO₂,水蒸气促进氧化层疏松化,加速氧向内扩散。


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二、湿法氧化工艺流程:四步精密控制


以制造200 nm场氧(Field Oxide)为例,流程如下:


1. 晶圆预处理

RCA清洗:SC-1液(NH₄OH+H₂O₂+H₂O)去除有机残留;


HF稀溶液(0.5%)腐蚀原生氧化层,露出纯净硅表面。


超纯水脱水:兆声波震荡去除水膜,防止预氧化。


2. 反应室装载

石英舟装载:晶圆间隔5 mm直立放置,避免高温粘连;


充氮转移:手套箱内将晶圆移入氧化炉,氧含量<1 ppm。


3. 氧化反应四阶段(温度精准控制)

阶段
温度
气体
时间
作用
预热
20→800℃
N₂(10 L/min)
30 min
均匀升温防热应力开裂
氧化
900-1100℃
H₂+O₂(3:1)
2-4 h
水蒸气生成+SiO₂生长
慢冷
1100→700℃
N₂(5 L/min)
1 h
防止氧化层微裂纹
快冷
700→100℃
N₂(20 L/min)
30 min
抑制杂质再分布


半导体晶圆氧化工艺介绍 - 艾邦半导体网


END


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