芯片制造中两种氧化工艺并存,但湿法氧化凭借三大优势成为厚氧化层的首选:
特性 | ||
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反应式 | ||
氧化速率 | 快3-5倍(0.03-0.05 μm/h) | |
氧化层密度 | ||
适用场景 | 厚层(>100 nm) |
水蒸气的关键作用:氢原子裂解硅键:H₂O分子在高温下分解为·OH自由基,比O₂更易打破Si-Si键;体积膨胀效应:1体积硅生成2.2体积SiO₂,水蒸气促进氧化层疏松化,加速氧向内扩散。
以制造200 nm场氧(Field Oxide)为例,流程如下:
RCA清洗:SC-1液(NH₄OH+H₂O₂+H₂O)去除有机残留;
HF稀溶液(0.5%)腐蚀原生氧化层,露出纯净硅表面。
超纯水脱水:兆声波震荡去除水膜,防止预氧化。
石英舟装载:晶圆间隔5 mm直立放置,避免高温粘连;
充氮转移:手套箱内将晶圆移入氧化炉,氧含量<1 ppm。
阶段 | ||||
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预热 | ||||
氧化 | ||||
慢冷 | ||||
快冷 |
END
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