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【芯片封装】封装=造壳,封测=造芯?一文看懂半导体后道核心概念,别再闹笑话
前天 17:26   浏览:40   来源:小萍子

行业老炮儿一句“做封测”,新人往往听成“做封装”。差一个字,差的不只是一条产线。

在半导体行业待久了,你会发现一个有趣的现象:很多人把“封装”和“封测”挂在嘴边,仿佛是一回事。直到开会时被问到“你们厂的测试良率多少”,才发现根本答不上来。

今天就彻底掰扯清楚这两个词的区别。


01 封装,到底封装了什么?

封装(Package / Assembly),在半导体产业链中属于后道制造环节。它的输入是晶圆(Wafer),输出是一颗颗独立的、可以直接上贴片机的芯片元件。

封装的核心工序包括:

  • 划片:将晶圆上的裸芯片(Die)一颗颗切割下来;

  • 贴片:将裸芯片粘贴在引线框架(Leadframe)或基板(Substrate)上;

  • 打线:用金线、铜线或银线,将芯片上的焊盘与框架/基板的引脚连接起来(部分先进封装采用倒装焊,无需打线);

  • 塑封:用环氧树脂(EMC)将芯片包裹起来,保护其不受物理和化学损伤;

  • 电镀/切筋成型:完成引脚成型和表面处理,最终形成一颗能用的芯片。

简单说,封装负责的是“物理形态的转换”:把一个脆弱、无法直接焊接的裸片,变成一个坚固、标准化、能装在电路板上的成品。

02 封测,多了一个字,多了一重把关

封测(Packaging & Testing),是两个工序的合称:封装 + 测试。

测试,又是什么?

芯片测试一般分为两段:

  • CP测试(晶圆测试,Chip Probe):在划片之前,用探针台直接扎在晶圆上的每颗裸芯片上,测它的电路通不通、性能达不达标。没通过的芯片会被标记,划片后直接报废,不浪费封装成本。

  • FT测试(最终测试,Final Test):芯片封装完成后,再上测试机,模拟它在实际应用场景中的表现。测的是封装过程有没有损伤芯片、引脚连接好不好、高温低温下稳不稳定。

测试环节产出的数据,叫良率(Yield)。这是封测厂最核心的经营指标,也是晶圆厂判断工艺有没有问题的重要依据。

所以,封测=封装+测试,这是两个工种、两种设备、两套技术体系的叠加。

03 行业里为什么都叫“封测厂”?

你去查中国半导体上市公司的名录,会发现很多公司业务写的是“集成电路封测”,很少有单独写“封装”的。

原因在于:

如果只封不测,出货的芯片里可能混着大量不良品。消费电子对ppm(百万分之不良率)的要求极其苛刻,一颗坏芯片就能让整台设备返修。因此,测试不是可选工序,而是封装的标配

封测厂提供的是一站式交付:封装完成 + 测试筛选 + 良品出货。客户要的是“能用”的芯片,而不是“封好了但不知道能不能用”的芯片。

04 什么时候该用哪个词?

  • 如果谈的是工艺环节、产线岗位:可以说“我在封装车间”“负责封装工艺”。封装是一个具体的工序段。

  • 如果谈的是公司业务、产业分工:应该说“封测”。因为一家公司对外报价、接订单、交付产品,一定包含了测试环节。测试成本通常占封测总成本的30%-40%,甚至更高。

写在最后

封装是把芯片从“晶圆状态”变成“单颗零件”;封测是在这个基础上,加上一道“体检出厂”的门槛。

前者是过程,后者是完整的交付链条。

下次再有人问你做什么,别说错。这一字之差,懂行的人一听就知道你是不是刚入行。


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