侧墙工艺是半导体制造中用于形成轻掺杂漏（LDD）结构的关键技术。在器件尺寸不断缩小的过程中，漏极电压升高会导致耗尽区宽度增加，载流子在强电场作用下形成高能热载流子，进而引发热载流子注入效应，这是导致器件和芯片失效的常见诱因。为降低漏极与衬底PN结附近的峰值电场强度，研发人员引入了LDD结构，即在漏极与沟道之间形成一层很薄的轻掺杂区。侧墙工艺的作用正是在LDD离子注入后，制造出掩蔽层以防止后续重掺杂的源漏离子注入影响轻掺杂区域。从器件剖面图可见，LDD结构位于侧墙正下方，侧墙能够有效掩蔽LDD结构，且该工艺不需要掩模版，成本较低、流程简单。

侧墙的形成基于各向异性的干法刻蚀回刻技术。首先淀积厚度为S1的介质层，多晶硅栅的厚度为S2，其侧面介质层总厚度为S1+S2。干法刻蚀方向垂直向下，刻蚀停止于硅表面，刻蚀厚度即为S1，因此多晶硅栅侧面剩余的介质层厚度为S2，最终形成侧墙结构。侧墙的横向侧面宽度略小于S1，该宽度决定了LDD结构的横向尺寸，由淀积的介质层厚度决定。

侧墙刻蚀的典型流程如下：先沉积介质层，随后进行各向异性的干法刻蚀回刻，刻蚀方向垂直向下，停止于硅表面。侧墙的厚度由沉积的介质层厚度决定。针对侧墙刻蚀工艺，主要反应气体包括C4F8、CH3F、CH2F2、CHF3、CF4等，同时需添加稀释气体如O2、Ar和He。对于由二氧化硅和氮化硅组成的ON侧墙，通常使用含氢的碳氟化合物气体（如CH3F、CH2F2、CHF3）进行刻蚀。

在0.8μm及以下的工艺技术中，淀积的隔离侧墙介质层为二氧化硅，常用TEOS（四乙基氧化硅）发生分解反应生成，厚度约2000Å。TEOS的台阶覆盖率良好，随后利用干法刻蚀形成侧墙。

当特征尺寸进入0.18μm及以下，双层侧墙结构出现新问题：厚度较大的氮化硅会产生应力，使器件发生应变，导致饱和电流减小、漏电流增大。为此引入三明治结构（SiO2/Si3N4/SiO2，ONO），即先淀积约200Å二氧化硅、再淀积约400Å氮化硅、最后用TEOS生成约1000Å二氧化硅。该结构通过减薄氮化硅并由两层二氧化硅控制应力影响。

当特征尺寸达到90nm及以下时，栅极与漏极间的寄生电容Cgd逐渐增大并影响器件速度。为增大栅极与漏极LDD结构的距离，采用双重侧墙技术：先淀积约50Å二氧化硅和约150Å氮化硅，刻蚀形成第一重侧墙，进行LDD离子注入；随后再淀积ONO三明治结构作为第二重侧墙。第二重侧墙的典型工艺为LPCVD淀积约150Å二氧化硅、约350Å氮化硅、约1000Å二氧化硅，依次刻蚀形成最终结构。

侧墙工艺随晶体管尺寸缩小而不断演进，其介质材料经历了从单层二氧化硅、双层二氧化硅/氮化硅、ONO三明治结构到双重侧墙的演变过程。